Porteur du projet
ENSAMPartenaires
ST Microelectronics, EMSEFinanceurs
ANR,Sake
Strain-Stress Analysis by Kossel and EBSD Diffraction
L’objectif du projet est de développer un outil innovant d’analyse des contraintes aux échelles fines de la microstructure, et ceci dans la chambre d’un microscope électronique à balayage (MEB), par couplage de deux techniques complémentaires : l’EBSD et la diffraction Kossel.