Porteur du projet
ATMELPartenaires
ST Microelectronics, L2MP, LP3, IMSFinanceurs
FUI,
MADISON
Méthodes d'Analyse de Défaillance Innovantes par Stimulation Optique dyNamique
Développer des méthodes d’analyse de défaillance des circuits intégrés par le couplage de la stimulation optique dynamique avec le test fonctionnel des circuits intégrés dans un environnement pré industriel